測量溫度:RT~450℃/600℃
測量頻率:10Hz~1MHz
測量環境:空氣
測量通道:1/4通道可選
測量夾具:塊體
測量溫度:RT~1000℃
測量頻率:10μHz~30MHz
測量環境:高溫、真空、流動氣氛、空氣
測量通道:1/4通道可選
測量夾具:塊體、薄膜
測量溫度:-160℃~600℃
測量頻率:10μHz~30MHz
測量環境:高低溫、真空、流動氣氛、空氣
測量通道:1/5通道可選
測量夾具:塊體、薄膜
專用于介電性能測量的精密儀器
10年專注-只為用戶打造精準可靠的介電溫譜儀
溫度范圍10K至1250℃,
控溫精度±0.5℃
測量頻率10μHz~30MHz
測量精度0.05%
可同時測量固體樣品
和薄膜樣品
Partulab數十位工程師和用戶抽絲剝繭,調整、推翻、解決,讓介電溫譜儀有了全新定義。
全新的介電溫譜測量系統不僅可以提供單樣品塊體/薄膜樣品測量系統平臺和多樣品塊體/薄膜樣品測量系統平臺,
?還可以提供不同的測量環境(如:流動氣氛、真空氣氛、不用氧分壓),以滿足科研多樣化的需求。
塊體樣品夾具
薄膜樣品夾具
單樣品夾具
四樣品夾具
評估材料介電性能通常采用平行板電容器原理,上下電極采用兩個平行板是最理想情況,但實際上在制作樣品和測量過程中樣品與電極兩個平面不可能完全接觸,通常只是一個或多個點接觸,如果某個接觸點導電性能不好就容易導致測量不穩定。為了避免以上現象,佰力博介電溫譜儀上電極采用半球狀,下電極采用平面,該電極系統可以精確定位測量被測樣品某一點,從而使系統的重復性和穩定性更好。
Partulab介電溫譜測量系統需要搭配WK6500系列阻抗分析儀使用,
也可以兼容AgilentE4294A、E4980A、E4990A阻抗分析儀和TH2828S LCR。
WK6500系列
Agilent4294A
AgilentE4980A
AgilentE4990A
TH2828S
可以直接測量樣品的介電常數和介電損壞隨溫度、時間、頻率變化的曲線,
?可以測量阻抗譜隨溫度、時間、頻率變化的曲線,同時得出Cole-Cole圖和壓電材料的機電耦合系數等。
通過阻抗測量C和D值,軟件可以自動計算出介電常數和介電損耗隨溫度、時間、偏壓、頻率變化的曲線,還可以直接得出介電常數實部和虛部的比值。
通過阻抗測量Z和φ 值,軟件可以自動計算出復阻抗隨溫度、時間、偏壓、頻率變化的曲線,還可以直接得出復阻抗Cole-Cole圖。
通過阻抗測量Z和C值,以及不同溫度下的諧振頻率和反諧振頻率,再通過軟件自動計算出機電耦合系數隨溫度、時間、頻率變化的曲線,軟件可以直接得出機械品質因數Qm。